* * *¿Se puede lograr una superresolución lateral cuando el intervalo de escaneo lateral de un microscopio focal es de 1 nm?

* * *La tecnología de enfoque introduce principalmente poros en la trayectoria óptica. El orificio puede controlar eficazmente la profundidad de enfoque y evitar interferencias de señales de impurezas. Creo que la pregunta es demasiado ideal para el interrogador, como dijo el interrogador: "Pero * * * el enfoque es el escaneo en el tiempo, es decir, primero observo el disco Airy A, y cuando escaneo al siguiente lugar, correspondiente al disco Airy B"; puede ser que el proceso de medición real no sea necesariamente mediante el escaneo del disco Airy A al disco Airy B, por lo que es muy probable que los dos discos Airy básicamente coincidan. Por ejemplo, el diagrama esquemático simplificado del principio del microscopio de enfoque a continuación muestra que en realidad solo queremos obtener imágenes del enfoque (de hecho, * * * el enfoque consiste en registrar la información de la intensidad de la luz punto por punto y finalmente procesarla en dos "imagen" dimensional o tridimensional), pero esto es puramente El estado ideal no puede ser justo. Además, este pequeño desplazamiento impone grandes exigencias a la fase de traducción.

* * *El microscopio de enfoque es un tipo de microscopio de barrido.

Se puede considerar que todos los microscopios de barrido utilizan una sonda para detectar objetos píxel a píxel y luego unirlos para formar una imagen.

El tamaño del paso de escaneo puede ser infinitamente pequeño, pero la resolución está limitada por el tamaño de la punta de la sonda. Si la punta es demasiado gruesa, incluso distancias de escaneo tan pequeñas como la longitud de Planck no ayudarán a mejorar la resolución porque los píxeles se superponen.

* * *El tamaño de la punta de un microscopio de enfoque es la resolución de difracción óptica λ/NA.

Según la ley de muestreo de Nyquist, el intervalo de escaneo es inferior a 1/2 veces la resolución de difracción.

La microscopía de enfoque ordinaria* * es imposible, a menos que sea la tecnología de imágenes de súper resolución de STED. * * * En comparación con las imágenes de microscopía de campo amplio ordinarias, las imágenes de microscopía focal tienen una resolución lateral limitada y no pueden superar el límite de difracción. El intervalo de escaneo lateral de 1 nm solo aumenta la frecuencia de muestreo espacial, pero no mejora la resolución lateral.